arrhenius htol 文章 最新資訊
了解你的安全應(yīng)用說明（第一部分）：失效率
- 失效率（或稱基準失效率）指單位時間內(nèi)的故障次數(shù)，其常用單位為故障數(shù) / 十億小時（FIT），即十億小時內(nèi)出現(xiàn)一次故障，該指標用于衡量產(chǎn)品在使用壽命內(nèi)的故障概率。圖 1 為電子元器件的可靠性浴盆曲線模型，該曲線分為三個階段：早期失效（又稱早期損耗失效）階段、使用壽命（又稱恒定失效 / 隨機失效）階段、耗損失效階段。本文的討論重點為元器件使用壽命階段的失效率。1. 顯示為可靠性浴缸曲線。了解電子系統(tǒng)中元件的失效率對于進行可靠性預(yù)測以評估整體系統(tǒng)可靠性至關(guān)重要。可靠性預(yù)測涉及指定可靠性模型、應(yīng)假設(shè)的失效模式、診
- 關(guān)鍵字： 失效率 集成電路 預(yù)測技術(shù) Arrhenius HTOL SN 29500 IEC 62380
新型功率器件的老化特性：HTOL高溫工況老化測試
- _____隨著技術(shù)的不斷進步，新型功率器件如碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）因其優(yōu)異的性能被廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。然而，這些器件在長期連續(xù)使用后會出現(xiàn)老化現(xiàn)象，導(dǎo)致性能退化。如何在短時間內(nèi)準確評估這些器件的老化特性，成為行業(yè)關(guān)注的焦點。目前，針對功率器件的老化測試主要包括多種不同的測試方式。其中，JEDEC制定的老化測試標準（如HTGB、HTRB、H3TRB和功率循環(huán)測試）主要針對傳統(tǒng)的硅基功率器件。對于新型的SiC等功率器件，AQG-324標準進一步要求增加動態(tài)老化測試，如動態(tài)柵偏和動態(tài)反偏測試。
- 關(guān)鍵字： 功率器件 老化特性 HTOL 高溫工況 老化測試
電子元件老化——電阻和運算放大器的老化效應(yīng)
- 使用溫度計算和Arrhenius方程了解電阻器和放大器的老化行為，以了解電阻器漂移、電阻器穩(wěn)定性和運算放大器漂移。之前，我們討論了使用相對較短的測試時間來評估電子元件長期穩(wěn)定性的高溫加速老化方法。在本文中，我們將繼續(xù)討論并研究電阻器和放大器的老化行為。老化預(yù)測——老化引起的電阻漂移首先，讓我們記住電阻器的值會隨著時間而變化。在許多電路中，只需要總的精度，電阻器老化可能不是一個嚴重的問題。然而，某些精密應(yīng)用需要在指定壽命內(nèi)長期漂移低至百萬分之幾的電阻器。因此，開發(fā)具有足夠精度的老化預(yù)測模型以確保所采用的精密
- 關(guān)鍵字： 電子元件老化，電阻，運算放大器，老化效應(yīng)，Arrhenius
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